Zeiss: Grenzen der Messtechnik ausgeweitet
Die Sparte Industrielle Messtechnik von Zeiss verschiebt mit den Xradia-Versa-Röntgenmikroskopen die Grenzen zerstörungsfreier Einblicke in den Submikrometerbereich. Die neue Metrology Extension (MTX) für die 3D-Röntgenmikroskope Zeiss Xradia 620/520 Versa sind in der Lage, dimensionelle Messungen mit einer Genauigkeit auszuführen, die weit über das hinausgeht, was bislang mit konventioneller Röntgen-Computertomographie (CT) …