Schlagwort: <span>Röntgenmikroskopie</span>

Zeiss: Gren­zen der Mess­tech­nik ausgeweitet

Die Spar­te Indus­tri­el­le Mess­tech­nik von Zeiss ver­schiebt mit den Xra­­dia-Ver­­­sa-Rön­t­­gen­­mi­­kro­s­ko­­pen die Gren­zen zer­stö­rungs­frei­er Ein­bli­cke in den Sub­mi­kro­me­ter­be­reich. Die neue Metro­lo­gy Exten­si­on (MTX) für die 3D-Rön­t­­gen­­mi­­kro­s­ko­­pe Zeiss Xra­dia 620/520 Ver­sa sind in der Lage, dimen­sio­nel­le Mes­sun­gen mit einer Genau­ig­keit aus­zu­füh­ren, die weit über das hin­aus­geht, was bis­lang mit kon­ven­tio­nel­ler Rön­t­­gen-Com­­pu­­ter­­to­­mo­­gra­­phie (CT) …